MENU

ZAKŁADY I PRACOWNIE

Zakłady i pracownie

Samodzielna Pracownia Cienkich Warstw i Analityki

oranges-line

Działalność naukowo-badawcza Samodzielnej Pracowni Cienkich Warstw i Analityki ukierunkowana jest na:

  • badania strukturalne materiałów stosowanych w chemicznych źródłach prądu
  • analizy jakościowe i ilościowe na potrzeby nauki, przemysłu chemicznego i pokrewnych

Pracownia oferuje następujące usługi i ekspertyzy:

  • projektowanie, otrzymywanie, modyfikacja i charakterystyka fizykochemiczna materiałów cienkowarstwowych dla fotowoltaiki oraz dla chemicznych i alternatywnych źródeł energii
  • otrzymywanie wybranych materiałów katodowych do zastosowania w chemicznych źródłach prądu,
  • wykorzystywanie wybranych związków odpadowych z procesów hydrometalurgicznych i flotacji do zastosowania w różnych gałęziach gospodarki, w tym do chemicznych źródeł prądu.

 

 

Zakład dysponuje szeroką ofertą analizy materiałów pod kątem składu, właściwości fizykochemicznych i użytkowych oraz bezpieczeństwa dla środowiska naturalnego, w tym:

  • analiza chemiczna materiałów nieorganicznych,
  • badania elektrolitów, materiałów elektrodowych,
  • badania przydatności surowców do wytwarzania chemicznych źródeł prądu,
  • analizy ilościowe m.in. składniki stopowe: Sb, As, Sn, Bi, Zn, Se, Ca, Al, Ag, Cu, Fe oraz zanieczyszczenia: Ni, Mn, Cd, Te; próg oznaczalności 0,0005%,
  • określenie rozkładu wielkości ziaren,
  • pomiary rozkładu wielkości cząstek w zakresie nano, zakres pomiarowy 2nm do 3µm,
  • charakterystyka zawiesin poprzez pomiar potencjału zeta,
  • identyfikacja fazowa substancji, rentgenowska fazowa analiza jakościowa i ilościowa,
  • wyznaczanie parametrów sieciowych, zakres kątowy pomiarów 3 do 20 2Ɵ,
  • oznaczanie zawartości Hg w próbkach stałych i ciekłych,
  • spektrofotometria UV-VIS roztworów, ilościowe oznaczenie kationów i anionów, zakres pomiarowy 190-1100 nm,
  • ilościowa i jakościowa analiza termiczna (TGA, DTA) ciał stałych w zakresie temperatur 20 – 1500°C, wyznaczanie ciepła reakcji i przemian fazowych techniką DSC do 700°C
  • określenie wielkości powierzchni właściwej, wyznaczenie pełnych izoterm adsorpcyjno-desorpcyjnych, mikroporowatość,
  • pomiary widm FT-IR próbek we wszystkich stanach skupienia, z wykorzystaniem różnych technik pomiarowych: transmisyjnych, refleksyjnych i emisyjnych.
Dyfraktometr rentgenowski proszkowy (PANalytical)
Dyfraktometr rentgenowski proszkowy (PANalytical)

Identyfikacja substancji za pomocą analizy rtg,
rentgenowska fazowa analiza jakościowa i ilościowa,
wyznaczanie parametrów sieciowych (wymiary komórki elementarnej).

Spektrometr XRF (PANalytical)
Spektrometr XRF (PANalytical)

Analiza jakościowa i ilościowa próbek stałych i ciekłych przy wykorzystaniu metody fluorescencji rentgenowskiej

Emisyjny spektrometr plazmowy ICP-OES (Agilent)
Emisyjny spektrometr plazmowy ICP-OES (Agilent)

Analizy ilościowe m.in. składniki stopowe, zanieczyszczenia

próg oznaczalności 0,0005% .

Spektrometr podczerwieni FT-IR (Bruker)
Spektrometr podczerwieni FT-IR (Bruker)

Pomiary widm IR z wykorzystaniem różnych technik pomiarowych: transmisyjnych, refleksyjnych i emisyjnych.

Termoanalizator różnicowy (Netsch)
Termoanalizator różnicowy (Netsch)

Ilościowa i jakościowa analiza termiczna (TGA, DTA) ciał stałych (20 - 1500°C), wyznaczanie ciepła reakcji i przemian fazowych techniką DSC (do 700°C).

Spektrofotometr UV-VIS (Thermo Scientific)
Spektrofotometr UV-VIS (Thermo Scientific)

Spektrofotometria UV-VIS roztworów.

Granulometr typu Mastersizer S (Malvern)
Granulometr typu Mastersizer S (Malvern)

Pomiary rozkładu wielkości ziaren materiałów proszkowych.

Nanosizer (Brookheaven)
Nanosizer (Brookheaven)

Pomiary rozkładu wielkości cząstek w zakresie nano, charakterystyka zawiesin poprzez pomiar potencjału zeta.

Analizator struktury porowatej ASAP 2010 (Micromeritics)
Analizator struktury porowatej ASAP 2010 (Micromeritics)

Wyznaczanie pola powierzchni właściwej wg BET i Langmuir, rozkład wielkości porów, analiza struktury mikroporowatej.

Analizator rtęci AMA 254
Analizator rtęci AMA 254

Oznaczanie zawartości Hg w próbkach stałych i ciekłych.

dr Agnieszka Martyła

tel:.+48 61 2797 815
kom. +48 505 892 538
fax:.+48 61 2797 897
e-mail :  agnieszka.martyla@claio.poznan.pl

Dokumenty do pobrania: